1.可分析元素由（11）到（92）之间的元素；
2.可检测固体﹑液体﹑粉末；
3.分析测量动态范围为10-6 – 100；
4.采用信号处理线路，采用计算机软件数码控制与显示进行仪器操作；
5.仪器可应用多个行业；
6.分析速度约100秒完成；
7.软件将分析结果存ACCESS数据；
8.采用OPC方式通讯，可与生料配料DCS系统联网。
规格参数：
1.置样装置
X荧光分析仪的置样装置具有可容纳多种形态被测样品的样品室。
样品种类：粉末﹑压片及熔片。
样品托盘：可以放置直径约200mm的样品。
样品室环境：可选择空气﹑真空。由软件自动控制，人工操作。
2.X射线管触发系统
触发系统采用倒置光学结构。以50KV的低功率高压X射线发生器作为触发源，从X射线管产生的X射线通过滤光片后直接触发样品，通过选择触发条件获得的分析结果。由高压发生器，X射线发生器及数码控制显示系统等电子线路部分构成。
A.高压发生器：电压与电流采用软件自动数码控制及显示。
X射线稳定度：0.3%
电压范围：0V-50kV可调。
电流范围：0mA-1mA可调。
B.X射线发生器：采用X光管，根据需要选择靶材。其光管等效功率为固定道的200W。
C.滤光系统：采用滤光片。
3.探测器系统
电制冷高分辨率高计数率探测器：分辨率为140ev。
4.能谱仪电子学系统
放大器等信号处理器：自动调整放大倍数。
5.计算机分析系统
液晶显示器、打印机。
6.系统软件
功能：能谱显示，分析元素设置，能量刻度，X光管高压、电流自动控制，自动真空控制，与其它计算机通讯，数据结果存放。
分析方法：线性拟合，二次曲线，强度校正，含量校正，基本参数方法。
仪器的漂移自动修正：
7.电源电压：AC 220V 50Hz
外形尺寸：540*630*1000mm
产品重量：50kg