高精度薄膜测厚仪 型号：ZH7574
产品简介: 适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等种材料的厚度精确测量。 产品特点： 1.微电脑控制、液晶显示 2.菜单式界面、PVC操作面板 3.接触式测量 4.测头自动升降 5.自动进样 6.手动、自动双重测量模式 7.数据实时显示、自动统计 8.显示zui大值、zui小值、平均值和统计偏差 9.可设进样步距、测量点数、进样速度等参数 10.标准接触面积、测量压力（非标可选） 11.显示zui大值、zui小值、平均值和统计偏差 12.标准量块标定 13.RS232接口 14.网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输 技术指标： 测量范围：0～2mm；0～6mm；12mm（可选） 分 辨 率：0.1μm 测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张） 接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制 进样步距：0～1000mm 进样速度：0.1～99.9mm/s 电    源：AC 220V 50Hz 外形尺寸：461mm（L）×334mm（B）×357mm（H） 净    重：32kg 标    准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 标准配置：主机、标准量块一件 选 购 件：软件、通信电缆、测量头、配重砝码